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  • 華測(cè)高溫四探針測(cè)試儀器
    華測(cè)高溫四探針測(cè)試儀器

    更新時(shí)間：2024-06-06

    型號(hào)：

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    HGTZ-800華測(cè)高溫四探針測(cè)試儀器器系統(tǒng)搭配Labview系統(tǒng)開(kāi)發(fā)的hcpro軟件，具備彈性的自定義功能，可進(jìn)行電壓、電流、溫度、時(shí)間等設(shè)置，符合導(dǎo)體、半導(dǎo)體材料與其它新材料測(cè)試多樣化的需求。
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  • HGTZ-800華測(cè)高溫四探針測(cè)試儀器
    HGTZ-800華測(cè)高溫四探針測(cè)試儀器

    更新時(shí)間：2023-08-09

    型號(hào)：HGTZ-800

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    華測(cè)高溫四探針測(cè)試儀器——高溫四探針測(cè)試儀采用四探針雙電測(cè)量方法，適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門(mén)，是檢驗(yàn)和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料在高溫、真空及氣氛條件下測(cè)量的一種重要的工具。本儀器配置各類(lèi)測(cè)量裝置可以測(cè)試不同材料。液晶顯示，無(wú)需人工計(jì)算，并帶有溫度補(bǔ)償功能。采用芯片控制，恒流輸出，結(jié)構(gòu)合理、質(zhì)量輕便，配備10英寸觸摸屏，軟件可保存和打印數(shù)據(jù)，自動(dòng)生成報(bào)表。
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  • 華測(cè)高溫四探針測(cè)試儀器 居里溫度
    華測(cè)高溫四探針測(cè)試儀器 居里溫度

    更新時(shí)間：2024-06-12

    型號(hào)：

    瀏覽量：2152

    華測(cè)高溫四探針測(cè)試儀器 居里溫度采用四探針雙電測(cè)量方法，適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門(mén)，是檢驗(yàn)和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料在高溫、真空及氣氛條件下測(cè)量的一種重要的工具。本儀器配置各類(lèi)測(cè)量裝置可以測(cè)試不同材料。液晶顯示，無(wú)需人工計(jì)算，并帶有溫度補(bǔ)償功能。
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  • HCTZ-2四探針測(cè)試儀器
    HCTZ-2四探針測(cè)試儀器

    更新時(shí)間：2023-08-29

    型號(hào)：HCTZ-2

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    HCTZ-2型數(shù)字式四探針測(cè)試儀器是運(yùn)用四探針測(cè)量原理的多用途綜合測(cè)量設(shè)備。儀器采用了電子技術(shù)進(jìn)行設(shè)計(jì)、裝配。具有功能選擇直觀、測(cè)量取數(shù)快、精度高、測(cè)量范圍寬、穩(wěn)定性好、結(jié)構(gòu)緊湊、易操作等特點(diǎn)。
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  • HCTZ-2S北京華測(cè)*四探針測(cè)試儀
    HCTZ-2S北京華測(cè)*四探針測(cè)試儀

    更新時(shí)間：2024-06-13

    型號(hào)：HCTZ-2S

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    HCTZ-2S北京華測(cè)*四探針測(cè)試儀器是運(yùn)用四探針測(cè)量原理的多用途綜合測(cè)量設(shè)備。儀器由主機(jī)、測(cè)試臺(tái)、四探針探頭、計(jì)算機(jī)等部分組成，測(cè)量數(shù)據(jù)既可由主機(jī)直接顯示，亦可由計(jì)算機(jī)控制測(cè)試采集測(cè)試數(shù)據(jù)到計(jì)算機(jī)中加以分析，然后以表格，圖形方式統(tǒng)計(jì)分析顯示測(cè)試結(jié)果。
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  • HCTZ-2S北京華測(cè)試驗(yàn)儀器四探針測(cè)試儀
    HCTZ-2S北京華測(cè)試驗(yàn)儀器四探針測(cè)試儀

    更新時(shí)間：2023-08-29

    型號(hào)：HCTZ-2S

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    HCTZ-2S北京華測(cè)試驗(yàn)儀器四探針測(cè)試儀器是運(yùn)用四探針測(cè)量原理的多用途綜合測(cè)量設(shè)備。該儀器按照單晶硅物理測(cè)試方法標(biāo)準(zhǔn)并參考美國(guó) A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計(jì)的，于測(cè)試半導(dǎo)體材料電阻率及方塊電阻（薄層電阻）的儀器。儀器由主機(jī)、測(cè)試臺(tái)、四探針探頭、計(jì)算機(jī)等部分組成，測(cè)量數(shù)據(jù)既可由主機(jī)直接顯示，亦可由計(jì)算機(jī)控制測(cè)試采集測(cè)試數(shù)據(jù)到計(jì)算機(jī)中加以分析，然后以表格，圖形方式統(tǒng)計(jì)分析顯示測(cè)試結(jié)果。
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  • HCTZ-2S華測(cè)四探針測(cè)試儀
    HCTZ-2S華測(cè)四探針測(cè)試儀

    更新時(shí)間：2024-06-13

    型號(hào)：HCTZ-2S

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    HCTZ-2S華測(cè)四探針測(cè)試儀器是運(yùn)用四探針測(cè)量原理的多用途綜合測(cè)量設(shè)備。該儀器按照單晶硅物理測(cè)試方法標(biāo)準(zhǔn)并參考美國(guó) A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計(jì)的，于測(cè)試半導(dǎo)體材料電阻率及方塊電阻（薄層電阻）的儀器。儀器由主機(jī)、測(cè)試臺(tái)、四探針探頭、計(jì)算機(jī)等部分組成，測(cè)量數(shù)據(jù)既可由主機(jī)直接顯示，亦可由計(jì)算機(jī)控制測(cè)試采集測(cè)試數(shù)據(jù)到計(jì)算機(jī)中加以分析，然后以表格，圖形方式統(tǒng)計(jì)分析顯示測(cè)試結(jié)果。
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  • HCTZ-2S北京華測(cè)四探針測(cè)試儀
    HCTZ-2S北京華測(cè)四探針測(cè)試儀

    更新時(shí)間：2024-06-13

    型號(hào)：HCTZ-2S

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    HCTZ-2S北京華測(cè)四探針測(cè)試儀器是運(yùn)用四探針測(cè)量原理的多用途綜合測(cè)量設(shè)備。儀器由主機(jī)、測(cè)試臺(tái)、四探針探頭、計(jì)算機(jī)等部分組成，測(cè)量數(shù)據(jù)既可由主機(jī)直接顯示，亦可由計(jì)算機(jī)控制測(cè)試采集測(cè)試數(shù)據(jù)到計(jì)算機(jī)中加以分析，然后以表格，圖形方式統(tǒng)計(jì)分析顯示測(cè)試結(jié)果。
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