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塞貝克系數(shù)電阻測(cè)試儀先進(jìn)功能材料電測(cè)綜合測(cè)試系統(tǒng)- 絕緣電阻劣化（離子遷移）評(píng)估系統(tǒng) 儲(chǔ)能新材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng) 半導(dǎo)體封裝材料真空探針臺(tái) 空間電荷測(cè)試系統(tǒng) 電容器溫度特性評(píng)估系統(tǒng) 高頻高壓絕緣電阻、介電多通道極化裝置鐵電分析儀高壓功率放大器絕緣電阻率測(cè)試儀高低溫冷熱臺(tái)測(cè)試系統(tǒng) 50點(diǎn)耐壓測(cè)試儀電壓擊穿測(cè)定儀耐電弧試驗(yàn)儀探針臺(tái) 漏電起痕試驗(yàn)儀多通道介電與電阻測(cè)試系統(tǒng)

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華測(cè)-高壓漏電起痕測(cè)試儀器

更新時(shí)間：2025-06-06

型號(hào)：

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華測(cè)-高壓漏電起痕測(cè)試儀器配合電壓、電流傳感器、高壓真空斷路開關(guān)、高壓交直流變壓器元件構(gòu)成。高壓漏電起痕試驗(yàn)是在工頻電壓下,通過液體污染和傾斜試樣評(píng)定,在環(huán)境條件下使用的電氣絕緣材料耐漏電起痕和耐電蝕損。其評(píng)定的方法有兩種,即恒定漏電起痕電壓法和逐級(jí)升壓漏電起痕電壓法。
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HCDH-3華測(cè)高壓漏電起痕測(cè)試儀CTI/PTI

更新時(shí)間：2025-06-06

型號(hào)：HCDH-3

瀏覽量：1983

華測(cè)高壓漏電起痕測(cè)試儀，是指在固體絕緣材料表面，在電場(chǎng)和電解液的聯(lián)合作用下逐漸形成導(dǎo)電通路的過程。這個(gè)過程被稱為漏電起痕，而絕緣材料表面抗漏電起痕的能力則稱為耐漏電起痕。漏電起痕試驗(yàn)是評(píng)估絕緣材料在特定條件下的耐漏電性能的一種方法，通過模擬在潮濕或污染介質(zhì)聯(lián)合作用下的環(huán)境，測(cè)定材料的相比漏電起痕指數(shù)（CTI）和耐電痕化指數(shù)（PTI）。華測(cè)高壓漏電起痕測(cè)試儀CTI/PTI
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HCLD-3漏電起痕試驗(yàn)儀

更新時(shí)間：2024-08-29

型號(hào)：HCLD-3

瀏覽量：2103

華測(cè)儀器-低壓漏電起痕試驗(yàn)儀是按IEC60695、GB4207/IEC60112等標(biāo)準(zhǔn)要求設(shè)計(jì)制造的試驗(yàn)儀器。適用于固體絕緣材料在潮濕條件下相比漏電起痕指數(shù)和耐漏電起痕指數(shù)的測(cè)定，具有簡(jiǎn)便、準(zhǔn)確、可靠、實(shí)用等特點(diǎn)。
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HCDH-300低壓漏電起痕測(cè)試儀器

更新時(shí)間：2024-08-26

型號(hào)：HCDH-300

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低壓漏電起痕測(cè)試儀器（電痕化指數(shù)試驗(yàn)）是在固體絕緣材料表面上，在規(guī)定尺寸（ 2mm × 5mm ）的鉑電極之間，施加某一電壓并定時(shí) （30s）定高度（ 35mm ）滴下規(guī)定液滴體積的導(dǎo)電液體（0.1%NH 4 CL），用以評(píng)價(jià)固體絕緣材料表面在電場(chǎng)和潮濕或污染介質(zhì)聯(lián)合作用下的耐漏電，測(cè)定其相比電痕化指數(shù) （CT1）和耐電痕化指數(shù)（PT1）。
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HCDH-200華測(cè)固體絕緣材料耐電痕化指數(shù)測(cè)試儀

更新時(shí)間：2024-06-04

型號(hào)：HCDH-200

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華測(cè)固體絕緣材料耐電痕化指數(shù)測(cè)試儀，主要是模擬家用電器產(chǎn)品在實(shí)際使用中不同極性帶電部件在絕緣材料表面沉積的導(dǎo)電物質(zhì)是否引起絕緣材料現(xiàn)在爬電、擊穿短路和起火危險(xiǎn)。電氣產(chǎn)品在使用過程中，由于環(huán)境的污染導(dǎo)致絕緣材料表面有污物、潮氣而產(chǎn)生的漏電，因此誘發(fā)的腐蝕而損壞絕緣。
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HCDH-200北京華測(cè)耐電痕化指數(shù)測(cè)試儀器

更新時(shí)間：2024-06-08

型號(hào)：HCDH-200

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北京華測(cè)耐電痕化指數(shù)測(cè)試儀器主要是模擬家用電器產(chǎn)品在實(shí)際使用中不同極性帶電部件在絕緣材料表面沉積的導(dǎo)電物質(zhì)是否引起絕緣材料現(xiàn)在爬電、擊穿短路和起火危險(xiǎn)。電氣產(chǎn)品在使用過程中，由于環(huán)境的污染導(dǎo)致絕緣材料表面有污物、潮氣而產(chǎn)生的漏電，因此誘發(fā)的腐蝕而損壞絕緣。
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HCDH-200耐電痕化指數(shù)測(cè)試儀器

更新時(shí)間：2023-08-29

型號(hào)：HCDH-200

瀏覽量：1984

耐電痕化指數(shù)測(cè)試儀器主要是模擬家用電器產(chǎn)品在實(shí)際使用中不同極性帶電部件在絕緣材料表面沉積的導(dǎo)電物質(zhì)是否引起絕緣材料現(xiàn)在爬電、擊穿短路和起火危險(xiǎn)。電氣產(chǎn)品在使用過程中，由于環(huán)境的污染導(dǎo)致絕緣材料表面有污物、潮氣而產(chǎn)生的漏電，因此誘發(fā)的腐蝕而損壞絕緣。
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HCDH-200北京華測(cè)*耐電痕化指數(shù)測(cè)試儀器

更新時(shí)間：2023-08-29

型號(hào)：HCDH-200

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北京華測(cè)*耐電痕化指數(shù)儀（電痕化指數(shù)試驗(yàn)）是在固體絕緣材料表面上，在規(guī)定尺寸（ 2mm × 5mm ）的鉑電極之間，施加某一電壓并定時(shí) （30s）定高度（ 35mm ）滴下規(guī)定液滴體積的導(dǎo)電液體（0.1%NH 4 CL），用以評(píng)價(jià)固體絕緣材料表面在電場(chǎng)和潮濕或污染介質(zhì)聯(lián)合作用下的耐漏電，測(cè)定其相比電痕化指數(shù) （CT1）和耐電痕化指數(shù)（PT1）。北京華測(cè)*耐電痕化指數(shù)測(cè)試儀器
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